致茂电子所开发的LED测试设备是应用于中游晶片切割前后及晶粒扩张前后,针对晶粒的电性、光学及静电放电(ESD)测试,并可结合点测机(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作介面,轻松快速地检测LED晶片及晶粒。针对现在最火热的背光源(light bar)应用,致茂已推出系列机种,能量测light bar模组之电性与光学特性。除此之外,为满足客户不同需求,致茂提供各种客制化的LED电性、光学测试设备,降低制造成本,提高客户在同业的竞争力。
致茂电子提供客户全系列LED测试解决方案
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